ZTMS08激光测厚仪测量原理?
ZTMS08激光测厚仪测量原理?此款传感器的技术特点是什么?
传统的测量薄膜方法是接触式测量,由于薄膜在生产过程中未成形固化,接触式测量会直接影响薄膜的形状、厚度,不利于保证产品的质量;接触探头对在线薄膜接触的压力过大,测量结果会变小,从而误导对薄膜厚度判断和生产控制,造成材料浪费,产品质量也没能够保证。许多薄膜类生产企业都因为在线测量薄膜厚度的问题,每年造成数十万元的材料浪费。 ZTMS08测厚仪,采用激光非接触式测量方式,不对在线薄膜产品构成影响,而且测量精度准确,给生产机械和工人提供准确的厚度数据,达到对薄膜生产的质量、成本有效控制的目的。在沥青防水薄膜材料、电池板极片、塑料薄膜等企业得到广泛应用。测量原理是利用两个ZLDS100激光传感器的的激光能再同一点上
测厚仪测量原理: 利用两个激光传感器的对射方式进行厚度测量,将传感器固定在稳定的支架上,确保两个传感器的激光能再同一点上。
答:这个不是很清楚详情>>