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半导体cp测试步骤

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半导体cp测试步骤


        

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  • 2023-11-05 19:00:22
    半导体cp测试的步骤如下:1、可测试性设计DFT(Design For Test),可测试性设计。如第二节CP测试内容和测试方法所述,芯片测试中用到的很多逻辑功能都需要在前期设计时就准备好,这一部分硬件逻辑就是DFT。2、选测试厂,测试机测试厂和测试机的选择要考虑芯片类型、测试内容、测试规格和成本等因素。3、制作ProbeCard以及Test Program选择好测试机后,硬件方面需要制作ProbeCard,软件方面需要制作Test Program。4、调试以及结果分析Wafer由Foundry出厂转运至测试厂,ATE软硬件就绪后就可以开始进行调试了。

    A***

    2023-11-05 19:00:22

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