造成耦合电容器损坏事故的主要原因，多数是由于在出厂时就带有定的先天缺陷。有的厂家对电容芯子烘干不彻底，留有较多的水分；或元件卷制后没有及时转人压装，造成元件在空气中的滞留时间太长，留有较多的水分；还有在卷制中碰破电容器纸等。个别电容器由于胶圈密封不严，进人水分。
此时部分水分沉积在电容器底部，另部分水分在交流电场的作用下将悬浮在油层的表面，此时如顶部单元件最容易吸收水分，又由于顶部电容器的场强较高，这部分电容器最易损坏。对损坏的电容器解体后分析得知，电容器表面已形成水膜。由于表面存在杂质，使水膜迅速电离而导电，引起了电容量的漂移，介电强度、电晕电压和绝缘电阻降低，损耗增大，从而使电容器发热，最后造成了电容器的失效。
所以每年的预防性试验测量绝缘电阻、介质损耗因数并计算出电容量是十分必要的。电容器的击穿往往与电场的不均勻相联系，在很大程度上取决于宏观结构和工艺条件，而电容器的击穿就发生在这些弱点处。电容器内部无论是先天缺陷还是运行中受潮，都首先造成部分电容器损坏，运行电压将被完好电容器重新分配，此时每个单元件上的电压较正常时偏高，最后导致电容器击穿。
为减少耦合电容器的爆炸事故发生，对运行中的耦合电容器应连续监测或带电测量电容电流，并分析电容量的变化情况。
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